美国CalMetrics X射线测厚仪镀层标准片

X射线测厚仪标准片Brass/Fe规格（可提供特别订制）：

黄铜上镀铜(Brass/Fe)

Brass/Fe 198u〞(5.03um)
Brass/Fe 985u〞(25.02um)

X射线测厚仪镀层标准片适用于费希尔Fischer、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）的建档、校准和校验。

X射线测厚仪镀层标准片的特色：标准片NIST、A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好;

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书，具有权威性）

美国CalMetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片，以及对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。

X射线测厚仪镀层标准片又叫膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

美国CalMetrics X射线测厚仪镀层标准片

X射线测厚仪标准片Au/Al规格（可提供特别订制）：

铝上镀金(Au/Al)

Au/Al 76u〞(1.93um)
Au/Al 272u〞(6.91um)

X射线测厚仪镀层标准片适用于费希尔Fischer、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）的建档、校准和校验。

X射线测厚仪镀层标准片的特色：标准片NIST、A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好;

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书，具有权威性）

美国CalMetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片，以及对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。

X射线测厚仪镀层标准片又叫膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。

美国CalMetrics X射线测厚仪镀层标准片

X射线测厚仪标准片Ag/Al规格（可提供特别订制）：

铝上镀银(Ag/Al)

Ag/Al 35u〞(0.89um)

Ag/Al 208u〞(5.28um)

Ag/Al 670u〞(17.02um)

Ag/Al 207u〞(5.26um)

Ag/Al 645u〞(16.38um)

Ag/Al 900u〞(22.86um)

X射线测厚仪镀层标准片适用于费希尔Fischer、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）的建档、校准和校验。

X射线测厚仪镀层标准片的特色：标准片NIST、A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好;

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书，具有权威性）

美国CalMetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片，以及对标准片进行重新鉴定，其所有证书都是符合NIST（National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院）标准或ANSI（American National Standards Institute美国国家标准学会）标准。

X射线测厚仪镀层标准片又叫膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。