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镀层标准片Sn/XX

Sn-XX-422-Sn-XX-90-CalMetrics-

镀层标准片Sn/XX标准规格(可提供特别订制):

锡TIN (Sn)
CSSN4 4u” (0.10um)
CSSN10 10u” (0.25um)
CSSN20 20u” (0.50um)
CSSN40 40u” (1.00um)
CSSN80 80u” (2.00um)
CSSN200 200u” (5.00um)
CSSN400 400u” (10.0um)
CSSN800 800u” (20.0um)
CSSN1600 1600u” (40.0um)
CSSN2400 2400u” (60.0um)

Calmetrics镀层标准片适用于费希尔Fischer、牛津Oxford、CMI、热电Thermo、Veeco、微先锋Micro Pioneer、精工Seiko、岛津、电测、纳优、天瑞、华唯等各厂牌X-ray(X射线测厚仪)、 β-ray(β射线测厚仪)、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。

特色:标准片NIST、A2LA校正认证,质量精良,精度高、稳定性好;  X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片

X射线测厚仪镀层标准片一般分为单镀层片,双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如:单镀层:Ag/xx,双镀层:Au/Ni/xx, 三镀层:Au/Pd/Ni/xx,合金镀层:Sn-Pb/xx, 化学镀层:Ni-P/xx。(所有标准片都附有NIST证书)

美国Calmetrics公司是专业生产X射线荧光金属镀层测厚仪标准片及RoHS标准片,以及对标准片进行重新鉴定,其所有证书都是符合NIST(National Institute of Standards and Technology美国国家标准与技术研究院)标准或ANSI(American National Standards Institute美国国家标准学会)标准。

测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片,专业用于X射线测厚仪(膜厚仪)在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。


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